涂层测厚仪 > LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
所属品牌:德国KARLDEUTSCH(卡尔德意志)
无损检测:涂层测厚仪
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400-894-0148转805
  • 产品介绍
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德国karldeutsch LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪由爱仪器仪表网专业代理,本产品是拥有着大屏幕,使用方便的涂层测厚仪,现在热卖中,如需购买,可通过ai1718.com的客服热线联系我们!

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪简介:
•LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
•LEPTOSKOP2042涂层测厚仪利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
•LEPTOSKOP2042涂层测厚仪将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
•LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪特点:
•大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
•校准选项
•出厂时已校准,立即可用
•在未知涂层上校准
•零校准
•在无涂层的基体上一点和多点校准
•在有涂层的基体上校准
•校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
•可选择的显示模式,以完美形式去完成测量任务
•输入和极限监视
•在Windows下有简单的存储读数档案管理
•可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
•统计
•可统计评估999个读数
•最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视
•局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
•在线统计,所有统计值概括
普通型
铁基膜层测厚仪标准套 2042F
非铁基膜层测厚仪标准套 2042NF
铁基/非铁基膜层测厚仪标准套 2042
数据型 铁基 2042  Fe set  EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 2042 EF
2042  Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 2042DF
非铁基 2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 2042ENF
2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 2042DNF
铁基/非铁基 2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 2042 E
2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱 2042 D
附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里
技术支持